當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > > EQE/光子-電子轉(zhuǎn)換測(cè)試 > APD-QE先進(jìn)光電探測(cè)器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)
簡(jiǎn)要描述：APD-QE 采用了光束空間強(qiáng)度技術(shù)，利用 ASTM 標(biāo)準(zhǔn)制定的「Irradiance Mode」測(cè)試方式，與各種先進(jìn)探尖臺(tái)形成完整的微米級(jí)光感測(cè)器全光譜效率測(cè)試解決方案。APD-QE 已被應(yīng)用于多種先進(jìn)光感測(cè)器的測(cè)試中，例如在iPhone 曝光及其多種光感測(cè)器、Apple Watch 血氧光感測(cè)器、TFT 影像感測(cè)器、源動(dòng)態(tài)圖元感測(cè)器（APS）、高靈敏度間切換 X 射線感測(cè)器等。
產(chǎn)品型號(hào)：APD-QE廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2024-06-28訪 問 量： 2109產(chǎn)品分類
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| 品牌 | Enlitech | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 測(cè)量模式 | 交流 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源 |
使用均勻光源的「照度模式」（Irradiance Mode） 符合ASTM E1021
取代傳統(tǒng)聚焦小光源，可以測(cè)試等級(jí)光電子檢測(cè)器。
均勢(shì)光斑可以克服色散差與像差的問題，可準(zhǔn)確測(cè)量得EQE曲線
可搭配多種探針系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)非破壞性的快速測(cè)試。
整合光學(xué)與測(cè)試系統(tǒng)，提高系統(tǒng)搭建效率。
一體式自動(dòng)化測(cè)試軟件，自動(dòng)光譜保存與檢測(cè)，工作效率高。
測(cè)試特性：
– 環(huán)境效率 EQE
– 光譜回應(yīng) SR
– IV 曲線檢測(cè)
– NEP 光譜檢測(cè)
– D* 光譜檢測(cè)
– 噪聲-電流-頻率響應(yīng)圖（A/Hz -1/2 ; 0.01Hz~1,000Hz）
– Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析
專業(yè)技術(shù)
定制化光斑尺寸與光強(qiáng)度光焱科技APD-QE光譜儀量子效率檢查系統(tǒng)在光束直達(dá)25mm光束尺寸、工作距200mm條件下檢查，可以達(dá)到光強(qiáng)度與光均強(qiáng)度如下。在波長(zhǎng)530nm時(shí)，光強(qiáng)度可以達(dá)到82.97uW/(cm 2 )。
| 波長(zhǎng) (納米) | 半高寬（nm） | 光均U%=(Mm)/(M+m) | |
| 5毫米×5毫米 | 3毫米×3毫米 | ||
| 470 | 17.65 | 1.6％ | 1.0％ |
| 530 | 20.13 | 1.6％ | 1.2％ |
| 630 | 19.85 | 1.6％ | 0.9％ |
| 1000 | 38.89 | 1.2％ | 0.5％ |
| 1400 | 46.05 | 1.0％ | 0.5％ |
| 1600 | 37.40 | 1.4％ | 0.7% |
在光斑直徑25mm、工作距200mm條件下，APD-QE探測(cè)器量子效率測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量的光均強(qiáng)度。
光焱科技具備自主光學(xué)設(shè)計(jì)能力。光斑與光強(qiáng)度在內(nèi)容中，可以接受客製化，如有需要與我們聯(lián)繫。
定量控制功能
APD-QE 光感測(cè)器量子效率檢測(cè)系統(tǒng)具有「定量」功能（選配），用戶可以透過控制各個(gè)單色光子數(shù)，讓各波長(zhǎng)光子數(shù)都一樣，并進(jìn)行測(cè)試。這也是光感測(cè)科技 APD-QE 光感測(cè)器量子效率檢測(cè)系統(tǒng)的獨(dú)到技術(shù)，其他廠商都做不到。
使用定量子數(shù)控制模式（CP控制模式），子數(shù)變化可以 < 1%
統(tǒng)一系統(tǒng)與探針整合
| 可量測(cè) | 可客裂解 |
|---|---|
| 1.最終光強(qiáng)校正 | ．客化暗箱 |
| 2.光譜響應(yīng)測(cè)定 | ．XYZ軸位移平臺(tái) |
| 3.外部量子效率（EQE） | ．定制探針臺(tái)整合服務(wù)． |
| 4.NEP 光譜 | |
| 5.D*光譜 | |
| 6.噪音-電流-頻率響應(yīng)圖(A/Hz -1/2 ) | |
| 7.Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析 | |
| 8.IV 曲線測(cè)試 ．不同光IV 曲線測(cè)試 ．定電流/電壓，電壓/電流間變化測(cè)試 ．照光條件下 |
采用了利傅立葉光學(xué)元件均光系統(tǒng)，可將單色光強(qiáng)度空間分布均勢(shì)化。在 10mm x 10mm 面積以 5 x 5 檢測(cè)光強(qiáng)度分，不一致勢(shì)在 470nm、530nm、630nm、850nm 均可小於 1%。在 20mm x 20mm 面積以 10 x 10 矩檢測(cè)光強(qiáng)度分，不一致勢(shì)可以小於 4%。
PDSW軟件采用全新SW-XQE軟件平臺(tái)，可進(jìn)行多種自動(dòng)化檢測(cè)，包含EQE、SR、IV、NEP、D*、速率雜訊電流圖（A/Hz1/2）、雜訊分析等。
EQE測(cè)試功能，可以進(jìn)行不同單色波長(zhǎng)測(cè)試，并且可以自動(dòng)測(cè)試全光譜EQE。
軟體可支持多種 SMU 控制，自動(dòng)進(jìn)行光照 IV 測(cè)試以及暗態(tài) IV 測(cè)試，并支持多圖顯示。
相對(duì)于其它 QE 系統(tǒng)，APD-QE 可以直接檢測(cè)并得到 D* 與 NEP。
升級(jí)FETOS軟件操作界面（選配），可測(cè)試3端與4端的Photo-FET組件。
APD-QE 系統(tǒng)由其出色的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，可以組成多種探針臺(tái)。全波長(zhǎng)光譜儀的所有光學(xué)元件都集成在精巧的系統(tǒng)中。單色光學(xué)儀引到探針臺(tái)遮光罩盒。圖像顯示了 MPS-4-S 基本探針臺(tái)組件，帶有 4 英寸真空吸入盤和 4 個(gè)帶有低噪音三軸電子的探針微定位器。
集成探針臺(tái)顯示微鏡，手動(dòng)滑動(dòng)切換到被測(cè)試設(shè)備的位置。使用滑動(dòng)條件后，單色光源器被「固定」在設(shè)計(jì)位置。顯示微圖像可以顯示于屏幕上，方便用戶進(jìn)行良好的連接。
A. 定制化隔離遮光箱。
B. 由于先進(jìn)的PD估算響應(yīng)速度，所以有效面積就要小（降低容量效率），因此，有很多需要整合探針臺(tái)的需求。
C. 可整合不同的半導(dǎo)體分析儀器如4200或E1500。
LiDAR 中的光電探測(cè)器
– InGaAs 光電二維 / SPAD
蘋果手錶光能電感測(cè)器
用於高增益感和成像光電二極體門控電晶體
高頻電感增益和填充系數(shù)光學(xué)靈敏度分析儀
高靈敏程度間轉(zhuǎn)換X射線探測(cè)器表徵
矽光學(xué)
– InGaAs APD
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